La Mesure par Fluorescence X (XRF)

La fluorescence X (XRF) est une technique d'analyse non destructive. L'appareil émet un faisceau de rayons X qui excite les atomes de la matière analysée. En réponse, chaque élément chimique (comme le plomb) réémet un rayonnement X caractéristique (fluorescence), dont l'intensité est proportionnelle à sa concentration. Le détecteur de l'appareil analyse ce spectre pour quantifier le plomb.

• •Méthode non destructive, rapide et fiable.
• •Source radioactive (Cobalt-57 ou Cadmium-109) ou tube à rayons X.
• •Excite les atomes de plomb présents dans les couches de peinture.
• •Le plomb émet un rayonnement de fluorescence spécifique (raie K ou L).
• •Le détecteur mesure l'intensité de ce rayonnement.
• •Le logiciel de l'appareil convertit l'intensité en concentration surfacique (mg/cm²).
• •Permet d'analyser toutes les couches de peinture simultanément.

L'appareil XRF utilisé pour le CREP est un analyseur portable muni d'une source radioactive scellée et d'un détecteur. L'utilisation de cet appareil est strictement réglementée en raison de la source radioactive. Avant chaque mission, l'opérateur doit s'assurer du bon fonctionnement et du calibrage de son appareil selon les préconisations du fabricant.

• •Contient une source radioactive scellée (le plus souvent Cobalt-57).
• •La détention et l'utilisation nécessitent des autorisations (ASN) et une formation (PCR).
• •L'obturateur de sécurité bloque le faisceau quand l'appareil n'est pas en mesure.
• •Le calibrage est essentiel pour garantir la justesse des mesures.
• •Les appareils à tube à rayons X se développent mais les sources restent majoritaires.
• •La durée de vie de la source est limitée et doit être contrôlée.

Pour effectuer une mesure, l'opérateur applique fermement la fenêtre de l'appareil sur la surface à analyser et déclenche la mesure. La durée de la mesure peut varier de quelques secondes à une minute en fonction de l'activité de la source et de la concentration en plomb. Il est crucial de choisir des points de mesure pertinents sur l'UD.

• •Appliquer l'appareil sur une surface plane et saine.
• •S'assurer qu'il n'y a personne derrière la paroi mesurée.
• •La durée de comptage est gérée par l'appareil pour atteindre la précision requise.
• •Le résultat s'affiche directement en mg/cm².
• •Le diagnostiqueur doit pouvoir mesurer jusqu'à 3 mètres de hauteur.
• •Les mesures sont localisées précisément sur le croquis si nécessaire (grandes surfaces).

La méthode XRF a ses limites. Les surfaces courbes, les substrats métalliques ou une trop grande épaisseur de revêtement sans plomb peuvent fausser la mesure. Lorsque la valeur mesurée est très proche du seuil de 1 mg/cm², le résultat peut être 'non concluant'. Dans de rares cas, un prélèvement pour analyse chimique en laboratoire peut être nécessaire.

• •Mesure 'non concluante' : quand la valeur est trop proche du seuil par rapport à la précision de l'appareil.
• •En cas de mesure non concluante, une autre mesure doit être faite sur l'UD.
• •Les substrats métalliques peuvent interférer avec la mesure.
• •Les couches épaisses de revêtements récents sans plomb peuvent masquer le plomb.
• •Prélèvement pour analyse chimique : cas exceptionnel, destructif.
• •L'analyse chimique recherche le plomb acido-soluble (seuil 1,5 mg/g).
• •Chaque appareil a ses propres spécificités de précision et d'incertitude.